X 射线荧光镀层测厚仪测量原理

测量方法:
X 射线荧光分析的基础在于,当材料样品中的原子被初级 X 射线激发时,来自最内层电子层的电子将释放出来;所产生的空位由来自外层电子层的电子填充。
在电子跃迁的过程中,每种元素都会产生其特有的特征X射线荧光辐射。探测器可接收到该荧光辐射并能据此给出样品成分的相关信息。
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