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X 射线荧光镀层测厚仪测量原理

来源:沧州欧谱      2019-8-8 9:57:31      点击:
符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 标准的能量色散式 X 射线荧光分析 (XRFA)


测量方法:
X 射线荧光分析的基础在于,当材料样品中的原子被初级 X 射线激发时,来自最内层电子层的电子将释放出来;所产生的空位由来自外层电子层的电子填充。

在电子跃迁的过程中,每种元素都会产生其特有的特征X射线荧光辐射。探测器可接收到该荧光辐射并能据此给出样品成分的相关信息。

(本文来源:沧州欧谱,转载请注明出处 www.oupu17.com)
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